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ST-SP2001 半导体分立器件测试筛选系统,完美应对IQC质检部繁杂的器件测试
来源: | 作者:wang | 发布时间: 2019-04-06 | 516 次浏览 | 分享到:
ST-SP2001 半导体分立器件测试筛选系统 ,成功推出。该设备可测试19大类27分类的器件,涵盖器件常规静态参数,电压1000V-2000V分辨率1Mv,电流50A-1300A  分辨率10PA, 精度0.2%+2LSB,测试速度0.5ms/参数。

最新产品:
       大力倡导低碳环保发展的今天。我国的新能源以及节能相关领域的企业迎来了发展的春天。
       电源、数控、变频器、焊机、新能源汽车控制系统、动力系统、以及新能源发电关联的逆变器、变流器等等,这些都是发展低碳节能工业的重要产品领域。
       但作为每个厂家来讲都面临着同样的棘手问题,那就是决定最终产品质量的分立元器件的检验测试问题如何完善解决。
       当下多数厂商采用多台功能单一的测试仪进行来料品质检验,于是出现了测试仪数量多、功能单一,却还是不能对器件检验做到尽善尽美。


在我司研发部人员近半年的反复试验调试中, ST-SP2001 半导体分立器件测试筛选系统
       终于成功推向市场,订单纷至,口碑良好。

      该设备可测试19大类27分类的器件
       涵盖器件所有的常规参数
       电压1000V-2000V分辨率1Mv
      电流50A-1300A  分辨率10PA
      精度0.2%+2LSB  速度0.5ms/参数
    

      欢迎各界同仁咨询了解……