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热特性测试仪

*可测Si,Sic,GaN材料IGBTs,Diodes,MOSFETs等;
*功率循环·秒级/Pcsec;
*功率循环·分钟级/Pcmin;
*被动循环/TC;
*热阻(抗)/Rth/Zth;
*K曲线/Kcurve;


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商品描述

*可测Si,Sic,GaN材料IGBTs,Diodes,MOSFETs等;
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*被动循环/TC;
*热阻(抗)/Rth/Zth;
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