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元器件直流参数测试系统

※  能测 36类“半导体分立器件”“电子元件”诸如 Diode、BJT、MOSFET、IGBT、SCR、光耦、继电器、IC、电流传感器、保护器等;
※  测试项目包括击穿、漏电、增益、导通、关断、触发、保持还可测试结电容,如Cka,Ciss,Crss,Coss;
※  高压源1.4KV/2KV,高流源40A/100A/300A/500A;
※  自带脉冲电流加热功能,高温测试更简单;
※  分辨率最高至1mV30pA
※  数据采集16位ADC,100K/S采样速率;
※  可连接分选机、机械手;
※  适合“来料检验”“产线量测”“选型配对”“失效分析”等;

10000.00
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商品描述

※  能测 36类“半导体分立器件”“电子元件”诸如 Diode、BJT、MOSFET、IGBT、SCR、光耦、继电器、IC、电流传感器、保护器等;
※  测试项目包括击穿、漏电、增益、导通、关断、触发、保持还可测试结电容,如Cka,Ciss,Crss,Coss;
※  高压源1.4KV/2KV,高流源40A/100A/300A/500A;
※  自带脉冲电流加热功能,高温测试更简单;
※  分辨率最高至1mV30pA
※  数据采集16位ADC,100K/S采样速率;
※  可连接分选机、机械手;
※  适合“来料检验”“产线量测”“选型配对”“失效分析”等;


元器件直流参数测试系统 & 半导体分立器件静态参数测试筛选系统 & 晶体管图示仪 & 晶体管测试仪

能测试很多电子元器件的静态直流参数

覆盖 7 大类别 26 分类,包括“二极管类”“三极管类”“保护类器件”“稳压集成类”“继电器类”“光耦类”“传感监测类”等品类的繁多的电子元器件。高压源 1400V(选配 2KV),高流源 40A (选配 100A,300A,500A)栅极电压 40V。分辨率最高至 1mV / 30pA 精度最高可至 0.5%

除静态参数还可测试“结电容”,支持“脉冲式自动加热”和“分选机连接”


※  半导体分立器件静态参数测试仪
※  晶体管图示仪
※  元器件参数测试仪
※  半导体图示仪
※  半导体静态特性分析仪
※  半导体分立器件静态参数测试筛选系统

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