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*可测试 19大类27分类 的大中小功率半导体分立器件及模块的 静态直流参数(测试范围包括 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 等器件)
*主极2000V / 50~1250A
*分辨率最高至1mV / 10pA
*支持曲线扫描图示功能
品牌+设备类型+高压源+大电流输出
ST DC 2000 X
1. ST:半导体测试Semiconductor Testing的首写,为我司半导体测试机业务品牌。
2. DC:直流电Direct Current的缩写,意为静态直流测试。
3. 2000:该系列产品高压源为2000V。
4. X:电流源提供多个选择50A,100A,250A,500A,750A,1KA,1.25KA。
- 测试分析:功率板器件研发涉及极端的初始测试。
- 失效分析:对失效器件进行测试,查找失效机理。以便对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案。
- 选型配对:在器件焊接至电路板之前进行全部测试,将测试数据比较一致的器件进行分类配对
- 来料检验:研究所及电子厂的质量部(IQC)对入厂器件进行抽检/全检,把控器件的良品率
- 量产测试:可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备,实现规模化、自动化测试
- 测试范围广(19大类,27分类)
- 扩展性强,支持电压电流阶梯式升级至2000V,1250A
- 被测器件接触不良时系统自动停止, 保证被测器件不受损坏
- 动态跨导测试精准(主流的直流法测跨导 ,其结果与实际值偏差很大)
- 系统故障在线判断定位设计,便于应急处理排障
- 二极管极性自动判别功能,无需人工操作
- IV 曲线显示 / 局部放大
- 程序保护最大电流/电压,以防损坏
- 品种繁多的曲线
- 可编程延迟时间可减少器件发热
- 曲线和数据直接导入到 EXCEL
*用于单管级 Si ,SiC ,GaN 材料的 IGBTs ,DIODEs ,MOSFETs 分立器件的动态特性测试
*电压源 1200V(支持 2KV 扩展),电流源 100A(支持 200/500A 扩展)
品牌+设备类型+高压源+大电流输出
ST AC 1200 X
1. ST:半导体测试Semiconductor Testing的首写,为我司半导体测试机业务品牌。
2. DC:直流电Alternating Current的缩写,意为动态直流测试。
3.1200:该系列产品高压源为1200V。
4. X:电流源提供多个选择100A,200A,500A,1500A,5000A。
- ST-AC1200_X 晶体管动态特性测试仪是针对于半导体器件进行非破坏性瞬态测试。
- 用于测试 Si ,SiC , GaN 材料的 IGBTs ,DIODEs , MOSFETs 的动态特性。
- 设备通过 DUT 适配器的转换,可测试各类封装外观的 IGBTs,MOSFETs,DIODEs 等功率器件,包括器件、模块、DBC 衬板以及晶圆。
- 产品在功能上进行了模块化设计,根据用户需求选择功能单元。
- 测试功能单元有 DPT(双脉冲测试 Double Pulse Testing,以下简称 DPT。包含开通特性、关断特性、反向恢复特性、栅电荷)短路、雪崩、结电容、栅电阻。测试方法完全符合 IEC60747-9 国际标准。
- 除了在测试功能方面具有灵活的拓展和选择性,设备在电压源和电流源的输出方面同样具有极大扩展潜力,电压电流支持最大 2KV,500A 的输出。
- 同时提供常温至 200℃的高温测试平台。
2) 动态测试高流源:100A(选配 200A/500A)
3) 动态测试栅极电压:15V 或 35V
4) 动态测试栅极电流:10A
5) 时间分辨率:1ns(选配 200ps/100ps/30ps)
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