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​​*可测试 19大类27分类 的大中小功率半导体分立器件及模块的 静态直流​参数（测试范围包括 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 等器件）

*主极2000V / 50~1250A

*分辨率最高至1mV / 10pA

*支持曲线扫描图示功能

• ​命名规则：
  

            品牌+设备类型+高压源+大电流输出​  

                    ST         DC        2000          X     

1. ST:半导体测试Semiconductor Testing的首写，为我司半导体测试机业务品牌。

2. DC：直流电Direct Current的缩写，意为静态直流测试。

3. 2000：该系列产品高压源为2000V。

4. X：电流源提供多个选择50A，100A，250A，500A，750A,1KA，1.25KA。

• ​应用场景：
  

• 测试分析：功率板器件研发涉及极端的初始测试。
• 失效分析：对失效器件进行测试，查找失效机理。以便对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案。
• 选型配对：在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对
• 来料检验：研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率
• 量产测试：可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试
  

• ​技术规格：
  

• 测试能力：
  

• 产品特点：
  

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• ​测试范围广​（19大类，27分类）
• 扩展性强，支持电压电流阶梯式升级至2000V,1250A
• 被测器件接触不良时系统自动停止, 保证被测器件不受损坏
• 动态跨导测试精准（主流的直流法测跨导 ，其结果与实际值偏差很大）
• 系统故障在线判断定位设计，便于应急处理排障
• 二极管极性自动判别功能，无需人工操作
• IV 曲线显示 / 局部放大
• 程序保护最大电流/电压,以防损坏
• 品种繁多的曲线
• 可编程延迟时间可减少器件发热
• 曲线和数据直接导入到 EXCEL
  

• 曲线列表：
  

• 漏电参数​​​​​：
  

• ​击穿参数​​​​​：
  

• 增益参数​​​​​：
  

• ​​导通参数​​​​​：
  

• ​混合参数​​​​​：
  

• ​关断参数​​​​​：
  

• 触发参数​​​​​：
  

• ​保持参数​​​​​：
  

• ​锁定参数​​​​​：
  

• ​命名规则：
  

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            品牌+设备类型+高压源+大电流输出​  

                    ST         AC       1200          X     

1. ST:半导体测试Semiconductor Testing的首写，为我司半导体测试机业务品牌。

2. DC：直流电Alternating Current的缩写，意为动态直流测试。

3.1200：该系列产品高压源为1200V。

4. X：电流源提供多个选择100A，200A，500A，1500A，5000A。

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• 产品描述：
  

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• ​​​ST-AC1200_X 晶体管动态特性测试仪是针对于半导体器件进行非破坏性瞬态测试。
• ​用于测试 Si ,SiC , GaN 材料的 IGBTs ,DIODEs , MOSFETs 的动态特性。
• ​设备通过 DUT 适配器的转换，可测试各类封装外观的 IGBTs，MOSFETs，DIODEs 等功率器件，包括器件、模块、DBC 衬板以及晶圆。
• ​产品在功能上进行了模块化设计，根据用户需求选择功能单元。
• ​测试功能单元有 DPT（双脉冲测试 Double Pulse Testing，以下简称 DPT。包含开通特性、关断特性、反向恢复特性、栅电荷）短路、雪崩、结电容、栅电阻。测试方法完全符合 IEC60747-9 国际标准。
• ​除了在测试功能方面具有灵活的拓展和选择性，设备在电压源和电流源的输出方面同样具有极大扩展潜力，电压电流支持最大 2KV,500A 的输出。
• ​同时提供常温至 200℃的高温测试平台。

• 基础能力：
  

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• 测试能力：
  

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• 开关时间特性/Turn_ON/OFF_L：
  

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• 二极管反向恢复特性/Qrr_FRD：
  

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• ​栅电荷/Qg：
  

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• 雪崩特性/UIS:​

• PN结电容/C_pn:​

• 栅电阻/R_g/d:​