[企业动态] ST-SP2001 半导体分立器件测试筛选系统，完美应对IQC质检部繁杂的器件测试

2019-04-06

ST-SP2001 半导体分立器件测试筛选系统 ，成功推出。该设备可测试19大类27分类的器件，涵盖器件常规静态参数，电压1000V-2000V分辨率1Mv，电流50A-1300A  分辨率10PA， 精度0.2%+2LSB，测试速度0.5ms/参数。