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[企业动态] ST-SP2001 半导体分立器件测试筛选系统,完美应对IQC质检部繁杂的器件测试
2019-04-06
ST-SP2001 半导体分立器件测试筛选系统 ,成功推出。该设备可测试19大类27分类的器件,涵盖器件常规静态参数,电压1000V-2000V分辨率1Mv,电流50A-1300A 分辨率10PA, 精度0.2%+2LSB,测试速度0.5ms/参数。