产品名称：HTXB环境老化试验系统
适用于各种封装类型的 Diode、BJT、MOS-FET、SCR、桥堆、IGBT 单管/模块、IPM 模块等环境老化试验
包括高温反偏/HTRB，高温栅偏/HTGB，高温高湿反偏试验/H3TRB，其中 HTRB 和 HTGB 可二合一
漏电流检测 1nA~20mA，高压 2000V@3000V
产品详情
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服务创造价值、存在造就未来
适用于各种封装类型的 Diode、BJT、MOS-FET、SCR、桥堆、IGBT 单管/模块、IPM 模块等环境老化试验
包括高温反偏/HTRB，高温栅偏/HTGB，高温高湿反偏试验/H3TRB，其中 HTRB 和 HTGB 可二合一
漏电流检测 1nA~20mA，高压 2000V@3000V
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