知识产权

当前位置：首页 > 知识产权
一种集成氮化镓二极管和三极管的雪崩测试电路及其控制方法
一种集成氮化镓二极管和三

高温SiC离子注入系统及其方法
高温SiC离子注入系统及

一种多数值手动高频电感箱
一种多数值手动高频电感箱

一种半导体器件测试夹具
一种半导体器件测试夹具

车规级MOSFET电学测试连接工装
车规级MOSFET电学测

外观设计专利证书
外观设计专利证书

基于云端互联的检测设备数据管理系统
基于云端互联的检测设备数

半导体器件高温反偏试验设备程控软件
半导体器件高温反偏试验设

西安天光测控技术有限公司
  • 营业执照：91610131MA6UUR694D
  • 备案号码：陕ICP备2021013026号-1
  • 地址：西安市西咸新区能源金融贸易区4C-3层
联系我们
  • 手机：18092643147
  • 电话：029-87309001
  • 邮箱：xatgck_office@163.com

扫一扫 手机访问

西安天光测控技术有限公司 Copyright 2021, All Rights Reserved 版权所有 © www.xatgck.com 陕ICP备2021013026号-1
电话咨询
联系我们
产品中心

电话咨询

24小时咨询热线

联系电话：029-87309001

移动电话：18092643147

期待您的来电

电话咨询

微信扫一扫

微信联系
返回顶部